
- 制造厂商:TI(德州仪器,Texas Instruments)
- 类别封装:开发板,套件,编程器 > 开发板,编程器配件,封装:
- 技术参数:TEST SYSTEM FOR BQ27X00
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BQ27X00-TESTER 技术参数详情:
- 型号:BQ27X00-TESTER
- 品牌:Texas Instruments (TI,德州仪器)
- 封装:
- 类目:开发板,套件,编程器 > 开发板,编程器配件
- 描述:TEST SYSTEM FOR BQ27X00
- 系列:-
- 包装:盒
- 产品状态:停产
- 配件类型:测试板
- 使用的 IC/零件:BQ27X00
- BQ27X00-TESTER优势代理货源,国内领先的TI芯片采购服务平台。
REF6025:具有集成缓冲器和使能引脚的 2.5V、5ppm/°C 高精度电压基准
SN74LS148:8 线至 3 线优先级编码器
ADS42B49:双通道、14 位、250MSPS 模数转换器 (ADC)
SN74AUP1G08-Q1:汽车类单路 2 输入、0.8V 至 3.6V 低功耗与门
TLV2211:Single, 10-V, 65-kHz operational amplifier with high output current (10 mA)
TPS2051B:高电平有效的 0.5A 负载、2.7-5.5V、70mΩ USB 电源开关
CD4515B-MIL:CMOS 4 位锁存器/4 至 16 线解码器
SN74LVC2G74-Q1:汽车类具有清零和预设功能的单路上升沿 D 类触发器
SN65LBC176-Q1:汽车类差动总线收发器
MSP430F67671:具有 6 个 Σ-Δ ADC、LCD、实时时钟、256KB 闪存和 32KB RAM 的多相位计量 SoC

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