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  • 制造厂商:TI
  • 类别封装:逻辑 - 专用逻辑,产品封装:28-SOIC(0.295,7.50mm 宽)
  • 技术参数:IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
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SN74ABT8543DWRE4 技术参数详情:
  • 制造商产品型号:SN74ABT8543DWRE4
  • 制造商:TI公司(德州仪器,Texas Instruments)
  • 描述:IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
  • 产品系列:逻辑 - 专用逻辑
  • 包装:卷带(TR)
  • 系列:74ABT
  • 零件状态:停产
  • 逻辑类型:扫描测试设备,带寄存总线收发器
  • 供电电压:4.5V ~ 5.5V
  • 位数:8
  • 工作温度:-40°C ~ 85°C
  • 安装类型:表面贴装型
  • 产品封装:28-SOIC(0.295,7.50mm 宽)
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DS90LV019-MIL:3.3V 或 5V LVDS 驱动器和接收器
SN74AHC04:6 通道、2V 至 5.5V 反相器
TPS7A6650H-Q1:具有电源正常指示功能的汽车类 50mA、电池供电运行 (40V)、低 IQ、低压降稳压器
DAC37J82:双通道、16 位、1.6GSPS、1x-16x 内插数模转换器 (DAC)
CD54HCT534:具有三态输出的高速 CMOS 逻辑八路正边沿触发式 D 型反相触发器
ADS807:12 位、53MSPS 模数转换器 (ADC)
LM2742:具有可调节软启动的 2.2V 至 16V 电压模式同步降压控制器
TPS56221:4.5V 至 14V、25A 同步 SWIFT 降压转换器
SN74ALB16245:16 位 WIDEBUS 收发器
TPS3899:具有可编程感应和复位延迟功能的纳米功率监控器
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