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  • 制造厂商:TI
  • 类别封装:逻辑 - 专用逻辑,产品封装:24-SOIC(0.295,7.50mm 宽)
  • 技术参数:IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
  • 丰富的TI公司产品,TI芯片采购平台
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SN74BCT8240ADW 技术参数详情:
  • 制造商产品型号:SN74BCT8240ADW
  • 制造商:TI公司(德州仪器,Texas Instruments)
  • 描述:IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
  • 产品系列:逻辑 - 专用逻辑
  • 包装:管件
  • 系列:74BCT
  • 零件状态:有源
  • 逻辑类型:扫描测试设备,带反相缓冲器
  • 供电电压:4.5V ~ 5.5V
  • 位数:8
  • 工作温度:0°C ~ 70°C
  • 安装类型:表面贴装型
  • 产品封装:24-SOIC(0.295,7.50mm 宽)
  • SN74BCT8240ADW优势代理货源,国内领先的TI芯片采购服务平台。
UCC28C42-Q1:汽车类 20V 低功耗电流模式 PWM 控制器,14.5V/9V UVLO,100% 占空比
SN74LVC06A:具有漏极开路输出的 6 通道、1.65V 至 3.6V 反相器
TPSM82866A:具有集成电感器、采用 3.5mm x 4mm QFN 封装的 2.4V 至 5.5V 输入、6A 薄型降压电源模块
TMP236:具有 19.5mV/°C 增益的 ±2.0°C 模拟输出温度传感器
TL750L:150mA、26V、低压降稳压器
SN54ALS874B:具有三态输出的八路 4 位边沿触发式 D 型触发器
DS110DF1610:8.5Gbps 至 11.3Gbps 16 通道重定时器
TMP139:具有 0.5°C 精度的 JEDEC DDR5 温度传感器
TPS562202:4.3V 至 17V 输入、2A 输出同步降压转换器
TLV5636:12 位、1us DAC,具有串行输入、可编程内部基准电压、稳定时间
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