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  • 制造厂商:TI(德州仪器,Texas Instruments)
  • 类别封装:逻辑 - 专用逻辑,产品封装:24-DIP(0.300,7.62mm)
  • 技术参数:IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
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SN74BCT8240ANTG4 技术参数详情:
  • 制造商产品型号:SN74BCT8240ANTG4
  • 制造商:TI公司(德州仪器,Texas Instruments)
  • 描述:IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
  • 产品系列:逻辑 - 专用逻辑
  • 包装:管件
  • 系列:74BCT
  • 零件状态:停产
  • 逻辑类型:扫描测试设备,带反相缓冲器
  • 供电电压:4.5V ~ 5.5V
  • 位数:8
  • 工作温度:0°C ~ 70°C
  • 安装类型:通孔
  • 产品封装:24-DIP(0.300,7.62mm)
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BQ77216:具有内部延迟计时器、适用于 3 节至 16 节串联锂离子电池的电压和温度保护器
SN74V215:512 x 18 同步 FIFO 存储器
UCC37323:具有反相输入的 4A/4A 双通道栅极驱动器
TCAN11623-Q1:具有集成 5V 电源和 3.3V、70mA LDO 的汽车类 CAN-FD 收发器
SN65LVDS84A:Flatlink 低电压差分信号 (LVDS) 发送器
MC79L:100mA 负电压线性稳压器
UC3524A:占空比为 45%、温度范围为 0°C 至 70°C 的高级 40V VCC、双端 300KHz 电压模式 PWM 控制器
SN54HCT374:具有三态输出的八路边沿触发式 D 型触发器
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MSP430F6778:具有 7 个 Σ-Δ ADC、LCD、实时时钟、AES、512KB 闪存和 16KB RAM 的多相位计量 SoC
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