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- 制造厂商：TI
- 类别封装：逻辑 - 专用逻辑，产品封装：24-DIP（0.300，7.62mm）
- 技术参数：IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
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SN74BCT8240ANTG4 技术参数详情：
- 制造商产品型号：SN74BCT8240ANTG4
- 制造商：TI公司（德州仪器，Texas Instruments）
- 描述：IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
- 产品系列：逻辑 - 专用逻辑
- 包装：管件
- 系列：74BCT
- 零件状态：停产
- 逻辑类型：扫描测试设备，带反相缓冲器
- 供电电压：4.5V ~ 5.5V
- 位数：8
- 工作温度：0°C ~ 70°C
- 安装类型：通孔
- 产品封装：24-DIP（0.300，7.62mm）
- SN74BCT8240ANTG4优势代理货源，国内领先的TI芯片采购服务平台。
TSM102：具有电压基准的双路运算放大器、双路比较器
CD4027B-MIL：CMOS 双路 J-K 主/从触发器
TPS61046：采用 WCSP 封装的 28V 输出电压升压转换器
SN74LS161A：同步 4 位二进制计数器
SN74LVTH240：具有总线保持、TTL 兼容型 CMOS 输入和三态输出的 8 通道、2.7V 至 3.6V 反相器
AMC1203：具有内部时钟的 ±250mV 输入、精密电流检测基本隔离式调制器
SN74LVC2G132：具有施密特触发输入的 2 通道、2 输入、1.65V 至 5.5V 与非门
SN65MLVD3：单通道 M-LVDS 2 类接收器
TMUX6121：5pA、±16.5V、1:1 (SPST)、2 通道精密模拟开关（高电平有效）
TPSM5601R5H：采用增强型 Hotrod QFN 封装的 60V 输入、1V 至 16V 输出、1.5A 电源模块
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