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  • 制造厂商:TI(德州仪器,Texas Instruments)
  • 类别封装:逻辑 - 专用逻辑,产品封装:24-SOIC(0.295,7.50mm 宽)
  • 技术参数:IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
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SN74BCT8373ADWRE4 技术参数详情:
  • 制造商产品型号:SN74BCT8373ADWRE4
  • 制造商:TI公司(德州仪器,Texas Instruments)
  • 描述:IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
  • 产品系列:逻辑 - 专用逻辑
  • 包装:卷带(TR)
  • 系列:74BCT
  • 零件状态:停产
  • 逻辑类型:扫描测试设备,带 D 型锁存器
  • 供电电压:4.5V ~ 5.5V
  • 位数:8
  • 工作温度:0°C ~ 70°C
  • 安装类型:表面贴装型
  • 产品封装:24-SOIC(0.295,7.50mm 宽)
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LM2840:采用超薄 SOT-23 封装的 SIMPLE SWITCHER 42V 100mA 降压直流/直流稳压器
OMAP3530:应用处理器
TMS320DM357:数字媒体片上系统 (DMSoC)
CD74FCT623:具有三态输出的 BiCMOS FCT 接口逻辑八路同向总线收发器
TPS65186:PMIC,用于启用 E-Ink Vizplex 技术的电子纸显示器
UCC23511:具有 8 和 12V UVLO 选项的 5.7kVrms 1.5A/2A 单通道光兼容隔离式栅极驱动器
TPA2000D1:2W 单声道、模拟输入 D 类音频放大器
SN74AUP1G08-Q1:汽车类单路 2 输入、0.8V 至 3.6V 低功耗与门
LMK05318B:采用 BAW 技术的超低抖动、单通道网络同步器时钟
ADS7953-Q1:汽车 12 位;1MSPS;16 通道单端微功耗;串行接口 ADC
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