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- 制造厂商：TI
- 类别封装：逻辑 - 专用逻辑，产品封装：24-SOIC（0.295，7.50mm 宽）
- 技术参数：IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
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SN74BCT8373ADWRE4 技术参数详情：
- 制造商产品型号：SN74BCT8373ADWRE4
- 制造商：TI公司（德州仪器，Texas Instruments）
- 描述：IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
- 产品系列：逻辑 - 专用逻辑
- 包装：卷带（TR）
- 系列：74BCT
- 零件状态：停产
- 逻辑类型：扫描测试设备，带 D 型锁存器
- 供电电压：4.5V ~ 5.5V
- 位数：8
- 工作温度：0°C ~ 70°C
- 安装类型：表面贴装型
- 产品封装：24-SOIC（0.295，7.50mm 宽）
- SN74BCT8373ADWRE4优势代理货源，国内领先的TI芯片采购服务平台。
LP5951：具有使能功能的 150mA、低 IQ、低压降稳压器
MSP430F2001：具有 1KB 闪存、128B SRAM、计时器和比较器的 16MHz MCU
74ACT16863：具有三态输出的 18 位总线收发器
BQ27010：适用于便携应用、带 HDQ 接口的锂离子和锂聚合物电池电量监测计 IC
SN75374：四路 MOSFET 驱动器
AM26C32M：四路差分线路接收器
INA180-Q1：AEC-Q100、26V、350kHz 电流感应放大器
SN54HC373：具有三态输出的八路 D 类透明锁存器
SN75HVD12：3.3V 差动收发器
TLV803E：低电平有效漏极开路输出型低功耗电压监控器（复位 IC）
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