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  • 制造厂商:TI(德州仪器,Texas Instruments)
  • 类别封装:逻辑 - 专用逻辑,产品封装:24-SOIC(0.295,7.50mm 宽)
  • 技术参数:IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
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SN74BCT8374ADWRE4 技术参数详情:
  • 制造商产品型号:SN74BCT8374ADWRE4
  • 制造商:TI公司(德州仪器,Texas Instruments)
  • 描述:IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
  • 产品系列:逻辑 - 专用逻辑
  • 包装:卷带(TR)
  • 系列:74BCT
  • 零件状态:停产
  • 逻辑类型:扫描测试设备,带 D 型边沿触发式触发器
  • 供电电压:4.5V ~ 5.5V
  • 位数:8
  • 工作温度:0°C ~ 70°C
  • 安装类型:表面贴装型
  • 产品封装:24-SOIC(0.295,7.50mm 宽)
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LMV771:单通道、低失调电压、低噪声、RRO 运算放大器
SN75437A:四路外设驱动器
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SN74LV1T02:单电源 2 输入正或非门逻辑电平转换器
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