
- 制造厂商:TI(德州仪器,Texas Instruments)
- 类别封装:集成电路(IC) > 逻辑 > 专用逻辑器件,封装:24-PDIP
- 技术参数:IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-PDIP
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SN74BCT8374ANT 技术参数详情:
- 型号:SN74BCT8374ANT
- 品牌:Texas Instruments (TI,德州仪器)
- 封装:24-PDIP
- 类目:集成电路(IC) > 逻辑 > 专用逻辑器件
- 描述:IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-PDIP
- 包装:管件
- 产品状态:停产
- 逻辑类型:扫描测试设备,带 D 型边沿触发式触发器
- 供电电压:4.5V ~ 5.5V
- 位数:8
- 工作温度:0°C ~ 70°C
- 等级:-
- 资质:-
- 安装类型:通孔
- 封装/外壳:24-DIP(0.300,7.62mm)
- 供应商器件封装:24-PDIP
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SN74LS75:四路双稳态锁存器
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THS6204:双端口 VDSL2 差分线路驱动器放大器
ADS8922B:具有内部 VREF 缓冲器、内部 LDO 和增强型 SPI 的 16 位 500kSPS 单通道 SAR ADC
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