
- 制造厂商:TI(德州仪器,Texas Instruments)
- 类别封装:集成电路(IC) > 逻辑 > 专用逻辑器件,封装:24-PDIP
- 技术参数:IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-PDIP
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SN74BCT8374ANTG4 技术参数详情:
- 型号:SN74BCT8374ANTG4
- 品牌:Texas Instruments (TI,德州仪器)
- 封装:24-PDIP
- 类目:集成电路(IC) > 逻辑 > 专用逻辑器件
- 描述:IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-PDIP
- 包装:管件
- 产品状态:停产
- 逻辑类型:扫描测试设备,带 D 型边沿触发式触发器
- 供电电压:4.5V ~ 5.5V
- 位数:8
- 工作温度:0°C ~ 70°C
- 等级:-
- 资质:-
- 安装类型:通孔
- 封装/外壳:24-DIP(0.300,7.62mm)
- 供应商器件封装:24-PDIP
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OPA228:33MHz、3nV/√Hz 噪声、高精密运算放大器
OPA365-Q1:汽车类 2.2V、50MHz 低噪声单电源轨到轨运算放大器
OPA2683:极低功耗、双路电流反馈运算放大器
TLV2264A:四路、高级 LinCMOS、0.2mA、轨到轨运算放大器
TL16C451:具有并行端口但没有 FIFO 的单路 UART
SN74AHC8541:SN74AHC8541
SN54ABT2245:具有三态输出的八路收发器和线路/MOS 驱动器
SMJ320C6201B:军用定点数字信号处理器
UC2907:具有 -40°C 至 85°C 工作温度范围的 35V 负载共享控制器
TPS56221:4.5V 至 14V、25A 同步 SWIFT 降压转换器

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