
- 制造厂商:TI
- 类别封装:逻辑 - 专用逻辑,产品封装:24-DIP(0.300,7.62mm)
- 技术参数:IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
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SN74BCT8244ANTG4 技术参数详情:
- 制造商产品型号:SN74BCT8244ANTG4
- 制造商:TI公司(德州仪器,Texas Instruments)
- 描述:IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
- 产品系列:逻辑 - 专用逻辑
- 包装:管件
- 系列:74BCT
- 零件状态:停产
- 逻辑类型:扫描测试设备,带缓冲器
- 供电电压:4.5V ~ 5.5V
- 位数:8
- 工作温度:0°C ~ 70°C
- 安装类型:通孔
- 产品封装:24-DIP(0.300,7.62mm)
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TPS65217:具有 3 个直流/直流转换器、4 个 LDO、线性电池充电器和白光 LED 驱动器的电源管理 IC (PMIC)
TMP422-Q1:符合 AEC-Q100 标准的汽车类 2 通道远程温度传感器
LM25088-Q1:汽车级 4.5-42V 宽输入电压、电流模式非同步降压控制器
LMG3522R030-Q1:具有集成驱动器、保护和温度报告功能的汽车类 650V 30m GaN FET
UC3825:具有 9.2V/8.4V UVLO 和 85% 占空比、温度范围为 0°C 至 70°C 的增强型 30V、1.5A 双端 PWM 控制器
PCA9534A:具有中断和配置寄存器的 8 位 2.3V 至 5.5V I2C/SMBus I/O 扩展器
LM98555:CCD 驱动器
TPS51317:3.3V / 5V 输入、6A、D-CAP+ 模式同步降压转换器
SMJ320C6203:军用级 C62x 定点 DSP - 陶瓷封装
DAC5573:采用 TSSOP 封装、具有 I2C 接口的 8 位四路 DAC

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