
- 制造厂商:TI(德州仪器,Texas Instruments)
- 产品类别:开关与多路复用器
- 技术类目:模拟开关和多路复用器
- 功能描述:具有 1.8V 逻辑电平的 ±60V 故障保护、1:1 (SPST) 四通道开关(四通道高电平有效)
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TMUX7411F、TMUX7412F 和 TMUX7413F 是互补金属氧化物半导体 (CMOS) 模拟开关,可提供 4 通道 1:1 (SPST) 配置。这些器件在双电源(±5V 至 ±22V)、单电源(8V 至 44V)或非对称电源(例如 VDD = 12V,VSS = –5 V)供电情况下运行良好。TMUX741xF 器件在通电和断电情况下均提供过压保护,适用于无法精确控制电源时序的应用。
在通电和断电条件下,该器件可阻断最高 +60V 或 −60V 的对地故障电压。在没有电源的情况下,无论开关输入条件如何,开关通道都将保持关断状态,并且逻辑引脚上的任何控制信号都会被忽略。如果任何 Sx 引脚上的信号路径输入电压超过电源电压(VDD 或 VSS)一个阈值电压 (VT),那么通道将会关闭,并且 Sx 引脚将变为高阻态。在故障情况下,所选通道的漏极引脚 (Dx) 为悬空状态。TMUX741xF 器件提供低电平有效中断标志 (FF),以指示是否有任何源输入出现故障,从而帮助系统诊断。
- 宽电源电压范围:
- 单电源:8V 至 44V
- 双电源:±5V 至 ±22V
- 集成故障保护:
- 过压保护(从源极到电源或到漏极):±85V
- 过压保护:±60V
- 断电保护:±60V
- 指示故障状态的中断标志
- 故障期间的输出开路
- 器件构造可实现闩锁效应抑制
- 6kV 人体放电模型 (HBM) ESD 等级
- 低导通电阻:8.3Ω 典型值
- 平缓的导通电阻:10mΩ 典型值
- 支持 1.8V 逻辑电平
-
失效防护逻辑:高达 44V(与电源无关)
- 业界通用的 TSSOP 封装和较小的 WQFN 封装
- Configuration
- 1:1 SPST
- Number of channels (#)
- 4
- Power supply voltage - single (V)
- 12, 16, 20, 36, 44
- Protocols
- Analog
- Ron (Typ) (Ohms)
- 9.5
- CON (Typ) (pF)
- 20
- ON-state leakage current (Max) (A)
- 0.025
- Bandwidth (MHz)
- 500
- Operating temperature range (C)
- -40 to 125
- Features
- 1.8-V compatible control inputs, Break-before-make, Fail-safe logic, Overvoltage protection
- Input/output continuous current (Max) (mA)
- 10
- Rating
- Catalog
- Supply current (Typ) (uA)
- 300
TMUX7412F的完整型号有:TMUX7412FRRPR,以下是这些产品的关键参数及官网采购报价:
TMUX7412FRRPR,工作温度:-40 to 125,封装:WQFN (RRP)-16,包装数量MPQ:3000个,MSL 等级/回流焊峰值温度:Level-2-260C-1 YEAR,引脚镀层/焊球材料:NIPDAU,TI官网TMUX7412FRRPR的批量USD价格:3.5(1000+)

TMUX741-746EVM 采用 PW 和 RRP 封装的 TMUX741xF 和 TMUX7462F 评估模块
TMUX741-746EVM 可用于评估采用 TSSOP (PW) 封装和 WQFN (RRP) 封装的 TMUX741xF 和 TMUX746xF 器件系列。该评估模块 (EVM) 可用于对 TMUX741xF 和 TMUX746xF 器件系列进行快速原型设计和测试,以便进行直流参数评估。
LEADED-ADAPTER1 用于快速测试 TI 5、8、10、16 和 24 引脚引线式封装的表面贴装转 DIP 接头适配器
EVM-LEADED1 板可对 TI 的常见引线式封装进行快速测试和电路板试验。该评估板具有足够的空间,可将 TI 的 D、DBQ、DCT、DCU、DDF、DGS、DGV 和 PW 表面贴装封装转换为 100mil DIP 接头。
LEADLESS-ADAPTER1 用于测试 TI 6、8、10、12、14、16 和 20 引脚无引线封装的表面贴装转 DIP 接头适配器
EVM-LEADLESS1 板可对 TI 的常见引线式封装进行快速测试和电路板试验。该评估板具有足够的空间,可将 TI 的 DRC、DTP、DQE、RBW、RGY、RSE、RSV、RSW、RTE、RTJ、RUK、RUC、RUG、RUM、RUT 和 YZP 表面贴装封装转换为 100mil DIP 接头。




- ATL431LI
- TPS53632
- SN74ALVCH373
- DRV8825
- SN65HVD22
- TMS320C5533
- LM96063
- CC3100
- SN74LS623
- TMDS141
- SN54HC374
- LP8545
- TPS79901-EP
- SN54LVTH162373-SP
- THS6012
- TLC6C5912
- MSP430FR2100
- BQ24620
- OPA2316
- SN74AUC1G08
- LM5027SQ-1/NOPB
- TPS6287B25HA0WRZVR
- UC3906DW
- TLV9024DYYR
- TLV320ADC3101IRGET
- TSER4905RTDT
- 74AHC16540DGVRG4
- LP324MT
- PTN78060WAS
- SN74AHCT594NSR
- TPS2546EVM-064
- PT78ST174S
- LME49724MR
- CD4543BM96
- INA205AIDR
- ULN2803ADW
- LM3S800-IQN50-C2T
- BQ29733DSET
- UCC5390ECDWV
- CD74AC02M

